半自动热滑移晶圆解键合系统
WDB1S080

产品特点

  • 新型解键合方式可使减薄厚度更加极限(3寸InP 45μm,4寸Si 30μm)
  • 采用软质上料方式、独特的上料以及解键合吸盘设计,可实现负压、正压、无压等多模式解键合;防止溢胶与背部金属划伤

设备规格

a.晶圆尺寸:8 寸及以下兼容
b.上加热吸盘温度程序可控范围30℃-200℃,控制精度:±1.5℃,加热速率20℃/min
c.下加热吸盘温度程序可控范围30℃-300℃,控制精度:±2℃,加热速率20℃/min
d.下吸盘配置液冷回路,最大降温速率20 ℃/min
e.采用自校平及硬接触式解键合机构,有效提高效率及降低破片率
f.下吸盘真空可分区控制开闭
g.高精度滑移控制系统,速度控制范围0.1mm/s-5mm/s